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ST-20掌上型方块电阻测试仪

浏览次数：966更新日期：2020-05-26
ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
 
◆ 特点：

1

 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定

2

 低功耗

3

 采用单个电池供电，带电池欠压指示

4

 仪器体积仅为：130mmX65mm X23mm

5

 特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜

6

 探头带抗静电模块
 
◆ 技术指标：
 

测量范围

基本量程：方块电阻10.0-199.9(Ω/口)
扩展量程：方块电阻100-1999(Ω/口)

测量不确定度

≤5%

探针规格

 探针间距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ

恒流源

 测量过程误差：≤±0.8%

电源

 9V叠层电池1节
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